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Type IIas金刚石压砧(HTHP)

Type Ia金刚石压砧 (天然)

Type IIac金刚石压砧(CVD)

碳化硅压砧

氧化铝压砧

氧化锆压砧

纳米金刚石NPD压砧

定制型压砧

3、Type IIas金刚石压砧(HTHP)

2.1、Standard Design 
 

1)超低拉曼信噪比》=5倍);
2) 超低荧光背景;
3)超低红外吸收。
同时满足拉曼、红外、荧光、XRD、中子等各种光谱的高压测量。

 

2、红外光谱(FT-IR)测试

1、拉曼光谱测试

3、荧光(PL)测试

3.1、Standard Design

X=3.00mm~0.15ct/3.25mm~0.20ct/3.50mm~0.25ct/3.75mm~0.31ct/4.00mm~0.35ct
Raman-selected for Ultra-Low Fluorescence、Ultra-Low Birefringence

注:标准的设计根据最高强度的(100)晶体取向的被抛光。
 

Bevel:N/single 8deg /double bevel6&12deg 
 

single bevel 
 

no bevel
 

double bevel
 

Type Ia; Boehler Design; X=2.5mm,30deg 
 

Type Ia; Boehler Design; X=3.10mm,70deg
 

Type Ia; Boehler Design; X=3.30mm,70deg
 

Type Ia; Boehler Design; X=3.30mm,85deg
 

Type Ia; Boehler Design; X=4.0mm,80deg
 

3.2 Boehler Design 

Raman-selected for Ultra-Low Fluorescence、Ultra-Low Birefringence

注:标准的设计根据最高强度的(100)晶体取向的被抛光。

Bevel:N/single 8deg /double bevel6&12deg 
 

single bevel 
 

double bevel
 

no bevel
 

Type Ia; Diacell Design;
X=2.50mm,H=1.55mm

 

Type Ia; Diacell Design;
X=3.10mm,H=1.70mm

 

3.3 Diacell Design 

注:标准的设计根据最高强度的(100)晶体取向的被抛光。

Raman-selected for Ultra-Low Fluorescence、Ultra-Low Birefringence

Bevel:N/single 8deg /double bevel6&12deg 
 

single bevel 
 

double bevel
 

no bevel
 

周一至周六9:00-18:00

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